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功率循環(huán)

設備：MicReD? Industrial Power Tester 1500A

廠商：Mentor Graphics

用途：結合功率循環(huán)測試功能和瞬態(tài)熱測試功能的熱測試產品，通過結構函數提供實時故
障原因診斷的數據

檢測范圍：IGBT模組

測試標準：JEDEC、 MIL-STD-750E、 GJB128A、 AEC-Q101、 IEC60747-2/6 ch. IV、 IEC60747-9、 JESD51-14

技術指標：

l 每通道最大加熱電流500A

l 瞬態(tài)捕獲輸入通道及最多可同時測試器件數量：3

l 時間分辨率：1s

l 每通道的最小測試電流Is輸出：5mA

l 每通道的最大測試電流Is輸出：1A

l 最小脈沖持續(xù)時間：0.5s

l 最大脈沖持續(xù)時間：3200h

l 柵極電流I_G測試：250pA~100A

l 實時分析常見的由于熱量引起的機械性失效包括：芯片焊接層、焊線的分離、芯片及封裝內部材料的分層與破裂、及焊接層的老化。

l 提供“實時”結構函數診斷功能，以顯示失效發(fā)展過程、循環(huán)次數以及失效原因。